JEM-2010型高分辨透射电子显微镜技术指标：
　　加速电压：80~200kV
　　分辨率：点分辨率0.19nm,点阵分辨率0.14nm
　　放大倍率：2,000~1500,000
　　能谱仪：Link-Inca超薄窗口能谱仪，
　　元素分析范围：B-U，空间分辨极限达纳米尺寸。可以进行纳米相与界面等结构与成分的综合分析。

JEM-2010型高分辨透射电子显微镜
生产厂家：日本电子株式会社；　2001年购置