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| JEM-2010型高分辨透射电子显微镜 |
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| 仪器设备名称 |
JEM-2010型高分辨透射电子显微镜
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| 规格型号 |
10KVA-0.14NM |
| 仪器设备单价 （万元） |
312 |
生产厂商 |
日本电子珠式会社 |
| 启用日期 |
2001年 |
运行状况 |
良好 |
| 联系人 |
刘亚东 |
联系电话 |
010-62333720 |
| E-mail |
test@ustbtest.com |
| 计量认证 |
是（ ）否（ ） |
实验室认可 |
是（ ）否（ ） |
服务收费标准
（参考价格） |
400元/小时
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服务时段 |
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| 主要规格及技术指标： |
加速电压：80~200kV
分辨率：点分辨率0.19nm,点阵分辨率0.14nm
放大倍率：2,000~1500,000
能谱仪：Link-Inca超薄窗口能谱仪
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| 主要功能及应用： |
JEM2010高分辨电镜，点分辨率0.19nm，点阵分辨率0.14nm，可做各种晶体试样的原子分辨率显微像。
配备的Link公司的INCA超薄窗口能谱仪可以做25nm—0.5nm空间分辨率下的从B到U元素成分分析，可以进行纳米相与界面等结构与成分的综合分析。
配备的Gatan—794 SSCCD相机可将图像数字化存贮、处理。
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| 主要附件： |
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| 对样品的要求： |
| 测试样品的规格为直径3mm的园形薄膜样品（或负载在微栅上的粉末样品），样品厚度一般不超过50nm。 |
| 机组简介： |
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