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Nano Indenter II 纳米显微力学探针
 仪器设备名称 Nano Indenter II 纳米显微力学探针
 规格型号 Nano Indenter II
 仪器设备单价 (万元)  生产厂商 美国MTS公司
 启用日期  运行状况
 联系人 刘亚东  联系电话 010-62333720
 E-mail test@ustbtest.com
 计量认证 是( )否( )  实验室认可 是( )否( )
 服务收费标准
 (参考价格)
 服务时段
 主要规格及技术指标:

Nano Indenter II纳米显微力学探针是一种特殊的压入系统,它能连续记录载荷、位移数据,实验载荷可小至微克数量级。除了可以研究第二相粒子,晶界,复合材料等,由于它的高位移精度(垂直方向为0.04nm)特别适合于分析各种薄膜材料和表面改性材料的微区力学性能。

 主要功能及应用:

纳米显微力学探针是研究材料微区力学性能的有力工具。
主要功能:
   1.测定各种薄膜材料包括离子注入材料、化学镀、气相沉积、多层膜、超硬膜、表面改性等材料的硬度和弹性模量;
   2.测定多相金属材料、复合材料中某一相的硬度和弹性模量及界面区域的硬度分布;
   3.测定材料的蠕变和应变速率敏感系数;
   4.测定材料的硬化指数;
   5.通过测量压痕的裂纹长度可以得到材料的断裂韧性;
   6.通过推出法测定复合材料的界面性能,可以得到界面剪切强度;
   7.结合有限元方法可计算材料的屈服强度;
   8.结合划痕附件可测量薄膜的结合强度和摩擦系数;
   9.在集成电路、微电子及生物材料领域也有应用。纳米显微力学探针的应用领域还在不断扩大。充分利用现有的硬件和软件,不断设计新的附件和应用软件必将开发出更多的新功能。

 主要附件:

 

 对样品的要求:

 

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